日立球差校正扫描透射电子显微镜HD-2700,相比于普通的透射电镜,HD-2700采用球差校正技术,大大减小了透镜球差对分辨率的影响,从而可以实现超高分辨率的观察。同时,HD-2700是目前少数以扫描透射(STEM)功能为主的透射电镜,大会聚角的STEM功能配合场发射电子枪和球差校正技术可以使HD-2700获得亚纳米级的电子束
更新时间:2016-09-18
日立球差校正扫描透射电子显微镜HD-2700
产品介绍:
HD-2700是一款200kV的场发射球差校正扫描透射电镜。相比于普通的透射电镜,HD-2700采用球差校正技术,大大减小了透镜球差对分辨率的影响,从而可以实现超高分辨率的观察。同时,HD-2700是目前少数以扫描透射(STEM)功能为主的透射电镜,大会聚角的STEM功能配合场发射电子枪和球差校正技术可以使HD-2700获得亚纳米级的电子束,使得原子级分辨率的图像观察和元素分析成为了可能,大大提高了电镜的观察和分析能力。
日立球差校正扫描透射电子显微镜HD-2700主要特点:
高分辨观察
利用金颗粒保证0.144nm分辨率DF-STEM像(标准型)。
大束流分析
约为非校正的STEM探针电流的10倍,可以进行高速、高灵敏度能谱分析,可以在更短的时间内获得元素的面分布图,使得检测微量元素成为可能。
简化的操作
提供了的GUI自动调节球差校正器
整体的解决方案
样品杆与日立FIB兼容,提供了纳米尺度的整体解决方案,从制样到数据获得和zui终分析
多种评价和分析功能可选
可同时获得和显示SE&BF、SE&DF、BF&DF、DF/EDX和DF/EELS像;可以配备ELV-2000型实时元素Mapping系统(DF-STEM像可以同时获得);可以同时观察DF-STEM像和衍射像;可以配备超微柱头样品杆进行三维分析(360度旋转)等。
技术参数:
项目 | 主要参数 |
电子枪 | 冷场或热场发射电子枪 |
加速电压 | 200kV、120kV* |
0.144nm(标准型,配有球差、冷场或热场) | |
线分辨率 | 0.136nm(高分辨型,配有球差、冷场) |
0.204nm(标准型,配有热场,无球差) | |
放大倍率 | 200x - 10,000,000x |
图像模式 | BF-STEM相衬度像(TE像)、DF-STEM原子序数衬度像(ZC像)、二次电子像(SE像)、电子衍射花样(可选)、特征X射线像(可选:EDX)、EELS像(可选:ELV-2000) |
电子光学 | 电子枪:冷场或热场发射电子枪,内置阳极加热器 |
透镜系统:两级聚光镜、物镜、投影镜 | |
球差校正器:六极/传输 双重(标准型和高分辨型) | |
扫描线圈:两级电磁线圈 | |
电位移:±1μm | |
样品杆 | 侧插式,X=Y=±1mm,Z=±0.4mm ,T=±30°(单倾样品杆) |
应用领域:
HD-2700作为一款场发射球差校正的扫描透射电镜,不仅具有高分辨率的图像观察能力,同样具有高空间分辨率的分析能力,配合EELS和EDS可以实现原子级元素的分析。HD-2700具有多种成像模式,可以满足大部分样品的观察需求,日立*的SE成像模式可以获得透射电镜无法获得的样品表面的信息,同时又比普通扫描电镜具有更高的分辨率,可以实现对样品表面的高分辨观察。
应用文章:
[1] Ciston1, J., Brown2, H. G., D`Alfonso2, A. J., Koirala3, P., Ophus1, C., Lin3, Y., Suzuki4, Y., Inada5, H., Zhu6, Y. & Marks3, L. D. Surface determination through atomically resolved secondary electron imaging.Nature Communications,2005,6, 7358-7365.
[2] Zhu1*, Y., Inada2, H., Nakamura2, K. & Wall1, J. Imaging single atoms using secondary electrons with an aberration-corrected electron microscope.Nature Materials,2009,8, 808-812.