5300E是一款真正的环境可控型原子力显微镜,可通过简单的操作来选择高真空环境、空气环境、液体环境、湿度环境、特种气体环境、或变温环境。 在高真空环境下一方面可防止样品表面水膜的形成,提高样品扫描分辨率和表面物理性能测试测量的准确性,另一方面可通过Q值的提高来提高AFM扫描灵敏度,进而提升图像的分辨率,同时在真空环境下测量还可避免易氧化样品的表面氧化。
更新时间:2017-10-18
Hatachi日立XE-NSOM近场扫描光学显微镜
XE-NSOM –用于各种光学应用的完备的AFM 系统
XE-NSOM是Park Systems专为高级光学研究而精心设计的一款专业产品,该仪器具备近场扫描光学显微镜(Near-field Scanning Optical Microscopy, NSOM)、拉曼光谱仪 (Raman Spectrometry)和共聚焦显微镜(Confocal Microscopy)功能。XE-NSOM 为此类光学实验提供了一整套性能可靠功能齐全的研究检测系统。
技术参数(机械部分):
1. XY扫描器:100?m×100?m(闭环)
2. Z扫描器:12?m (可选配25?m)
3. 水平度:100?m线扫描垂直偏差不超过2nm
4. 样品台移动范围:4mm(X/Y),27.5mm (Z)
5. 成像方法: AFM, NSOM
6. 光学观察:垂直光路设计,可直接观察微悬臂和样品
技术参数(NSOM部分):
1. NSOM激光光谱:400~900nm
2. 可根据透射或反射NSOM测量要求选用有孔或无孔微探针
3. 光子检测:APD 或PMT
技术参数(电子部分)
1. 微处理器:600MHz,4800MIPS DSP
2. 模数/数模:16位,500kHz采样频率
3. 图像采集:同步自动采集16幅图像,分辨率高达4096×4096像素
4. 通讯方式:采用基于TCP/IP协议的通讯方式与计算机联接
5. 符合CE认证标准
主要特点:
专业NSOM和Raman-AFM测量系统
一、 原子力显微镜和光学测量的*结合
二、 科学的光学设计提供了更宽的观测角度
三、 多功能的平台可满足反射和透射测量要求
四、 适宜光子检测的便捷式光轴调节系统
五、 便于产品升级的模块化设计思想